10.3969/j.issn.1007-2276.2012.11.001
红外焦平面阵列盲元簇成因分析
红外焦平面阵列中盲元簇的存在增加了系统盲元补偿算法的难度和复杂度.同时,基于算法处理的红外系统对盲元簇的要求更加严格,导致红外焦平面阵列的合格率大大降低.通过对大量红外焦平面阵列产品的测试,得到了盲元类别的统计结果:单个盲元、盲元对和盲元簇的盲元分别占盲元总数的60.8%、17.6%和21.6%.经分析,确定了盲元簇的几种主要成因:前工艺阶段的材料缺陷、光刻图形缺失、铟渣残留和铟柱缺陷;后工艺中的铟柱未连通、应力导致的芯片碎裂;可靠性试验诱发的缺陷暴露与扩大.研究结果表明,在探测器材料的筛选、铟柱制备技术、低应力的工艺和结构技术等方面做进一步的优化工作,可以降低盲元簇产生的几率,从而提高红外焦平面阵列的性能和成品率.
盲元、盲元簇、红外焦平面阵列、成因
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TN215(光电子技术、激光技术)
航空创新基金2011D01406
2013-02-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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