10.3969/j.issn.1007-2276.2011.07.006
三氧化钨薄膜的红外发射率调制技术
研究了利用载流子对材料表面的红外发射率进行调制的方法.根据电磁波理论,讨论了物体表面的发射率与折射率的关系,折射率大的物体发射率低.物质的折射率与其中的载流子浓度有关,通过控制载流子的浓度可以对材料的发射率进行调制.以磁控溅射方法在ITO玻璃上制备了氧化钨薄膜.利用电化学方法对三氧化钨薄膜进行了H+离子和电子的注入和抽取,此薄膜中载流子的浓度发生了变化.在着色态,三氧化钨薄膜具有较高的光谱反射率;在褪色态,三氧化钨薄膜具有较低的光谱反射率.结果表明,通过控制材料中载流子的浓度可以对材料的红外发射率进行调制.
红外发射率、折射率、调制、三氧化钨薄膜
40
TN21(光电子技术、激光技术)
安徽省红外与低温等离子体重点实验室基金2010A001004D
2011-12-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
1221-1224