10.3969/j.issn.1007-2276.2009.01.026
子孔径拼接干涉测量一大口径双曲面
为了无需辅助元件就能够实现对大口径非球面的检测,将子孔径拼接技术与干涉技术相结合,提出了一种利用子孔径拼接干涉检测非球面的新方法.分析了该技术的基本原理,并基于齐次坐标变换、最小二乘拟合建立了一种综合优化的拼接模型,在此基础上初步设计和搭建了子孔径拼接干涉检测装备.利用该方法对一口径为350 mm的双曲面进行了5个子孔径的拼接检测,得到拼接后的全口径面形误差的PV值为0.319λ,RMS值为0.044λ(=632.8 nm).为了对比和验证,对该非球面进行了零位补偿检测,两种方法测量所得的全口径面形分布是一致的,其PV值和RMS值的偏差分别为0.032λ和0.004λ.实验结果表明:该数学模型和拼接算法是准确可行的,从而提供了一种非零补偿测试大口径非球面的手段.
光学检测、子孔径拼接干涉、非球面、最小二乘拟合
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TN247(光电子技术、激光技术)
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所三期创新基金
2009-04-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
114-119