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10.3969/j.issn.1007-2276.2006.z3.028

LD热弛豫时间与泵浦光谱效率的改进

引用
采用测试半导体激光器热弛豫时间的新方法,测量光信号脉冲内不同时刻的时间分辨光谱,测试了TO封装和cm-Bar列阵的AlGaAs/GaAs半导体激光器泵浦光源,得到其热弛豫时间分别为为66 μs和96μs.在目前常用的方波驱动电流脉冲工作条件下,半导体激光器作为固体激光器泵浦源,如果热弛豫时间过长,单个脉冲内激射波长会偏离固体激光介质的吸收带,导致泵浦光波长利用率和有效泵浦能量降低.为克服现有技术的不足,文中提出了两种新型的驱动电流脉冲波形,通过优化电流波形参数可以将泵浦波长利用率提高30%左右,得到更大的有效泵浦能量.

半导体激光器、热弛豫时间、驱动电流波形

35

TN248(光电子技术、激光技术)

2008-09-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

124-128

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红外与激光工程

1007-2276

12-1261/TN

35

2006,35(z3)

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