消除CMOS读出电路噪声方法研究

摘要：

对红外焦平面阵列CMOS读出电路中几种常见的噪声及其抑制技术进行了分析和讨论,重点研究了消除读出电路噪声的新方法--双复位法.该方法克服了以往相关双取样的缺点,没有增加电路功耗和硅集成电路的复杂程度,只要电容参数选择合理,理论上能完全消除KTC噪声,而且对1/f噪声也起到抑制作用.

关键词：KTC噪声、读出电路、相关双取样、红外焦平面阵列

所属期刊栏目：33

分类号：TN7(基本电子电路)

资助基金：江苏省高校自然科学基金03KJD510168

在线出版日期：2005-01-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：659-661