利用FPGA实现红外焦平面器件的非均匀性校正

摘要：

与红外单元器件系统相比,焦平面面阵探测器的一个最大的缺点是其固有的非均匀性,尽管现在面阵探测器的非均匀性有了很大改进,但是非均匀性仍然限制凝视红外系统的探测性能.实用化、实时的非均匀性校正是红外焦平面器件应用的一个关键技术,尽管现在已经有很多种基于场景的非均匀性校正方法,但是两点校正算法仍然是基础的校正方法,有不可替代的价值.两点校正算法的流程简单固定,非常适合用FPGA实现.文章介绍了利用FPGA硬件实现焦平面探测器非均匀性的两点校正算法,实验达到了预期效果,同时也显示了该算法的一些不足之处.

关键词：红外焦平面探测器、非均匀性校正、FPGA

所属期刊栏目：29

分类号：TN215(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：55-57