X荧光分析

摘要：

X射线荧光分析技术具有分析速度快、检测元素广、分析精确度高、操作简便等优点。它在地质、冶金、陶瓷、化工及科学研究等部门中已成为一种重要的分析手段。文章简要介绍说明了X荧光分析实验的原理、仪器和方法，并进行了相关讨论。

关键词：X荧光分析、探测器、莫塞莱定律

分类号：TL81(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

在线出版日期：2014-05-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：45-47