X荧光分析
X射线荧光分析技术具有分析速度快、检测元素广、分析精确度高、操作简便等优点。它在地质、冶金、陶瓷、化工及科学研究等部门中已成为一种重要的分析手段。文章简要介绍说明了X荧光分析实验的原理、仪器和方法,并进行了相关讨论。
X荧光分析、探测器、莫塞莱定律
TL81(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)
2014-05-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
45-47
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X荧光分析、探测器、莫塞莱定律
TL81(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)
2014-05-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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