氟化锂探测器测量质子时厚度效应的分析

摘要：

目的分析氟化锂(LiF)探测器在测量质子时的厚度效应.方法在比较理想与合理的假设下,利用探测器吸收剂量的定义推导计算.结果质子能穿透探测器时,探测器厚度效应不明显:当质子能量大于12 MeV时,只是当探测器厚度接近于质子射程时其厚度效应才较为明显,小于12 MeV时,探测器没有厚度效应;质子不能穿透探测器时,探测器厚度效应较为显著.结论测量低能质子的剂量时,应选用较薄的LiF探测器,以避免其厚度效应的影响.

关键词：氟化锂探测器、质子、厚度效应、热释光效率

所属期刊栏目：13

分类号：TL816(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：42-44