星载大功率GaN固态功放寿命评估方法

摘要：

近年来大功率氮化镓(GaN)固态功放开始逐步星载应用,但产品可靠性仍未得到充分验证.文章提出利用加速寿命试验(ALT)和在轨工作情况相结合的方法进行大功率GaN固态功放寿命评估.首先利用故障模式、机理及影响分析(FMMEA)确定固态功放的薄弱环节和主要失效机理;然后基于阿仑尼乌斯(Arrhenius)模型研究加速寿命试验激活能和加速应力的取值方法,对产品进行75℃、10000 h的加速寿命试验;最后综合加速寿命试验结果和在轨工作情况对GaN固态功放进行寿命评估.评估结果显示:该产品45℃条件下在轨工作时,平均无故障时间(MTTF)为1.26×106 h,失效率为7.93×10-7,15年工作可靠度为0.901.

关键词：氮化镓;固态功放;加速寿命试验;寿命评估

所属期刊栏目：38

分类号：TN386(半导体技术)

资助基金：二代××可靠性专项

在线出版日期：2021-09-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：420-425