一种针对COTS产品的板级总剂量试验方法

摘要：

总剂量效应是制约COTS产品空间应用的重要因素之一.为了快速验证COTS产品能否满足低轨微小卫星的抗总剂量要求,文章提出一种板级总剂量试验方法,可以在单次试验中对整块电路板或整个设备进行总剂量试验,快速获得COTS产品的抗总剂量能力,从而大幅度提高总剂量试验的效率.将该方法应用到低轨微小卫星的研制过程中,可大大降低COTS产品总剂量效应地面试验验证的时间成本,且截至目前经验证的COTS产品在轨未出现因总剂量效应而产生的异常.

关键词：总剂量试验、板级试验、COTS产品、低轨微小卫星

所属期刊栏目：37

分类号：TN407;V416.5(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2020-07-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：299-302