基于半导体制冷的星载CCD测试用低温环境装置设计
文章设计了一种基于半导体制冷的星载CCD测试用低温环境装置.该装置结合热电制冷器和抗积分饱和PID控制算法,以ARM内核的微控制器作为主控芯片,采用温度传感器采集温度信息,以脉冲宽度调制(PWM)技术控制热电制冷器的制冷功率,利用水冷散热装置散发热电制冷器发出的热量,实现制冷温度的精确控制.该装置低温箱小巧轻便,可装配于CCD测试暗箱内,利用暗箱壁上的通光孔设计,可实现低温环境下CCD明、暗场全参数测试,满足了宇航用CCD测试的高可靠需求.
星载CCD、半导体制冷、双循环、PID控制算法、温度控制
36
TP3(计算技术、计算机技术)
2019-03-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共8页
95-102