质子单粒子效应引发卫星典型轨道下 SRAM在轨错误率分析

摘要：

利用中国原子能科学研究院100 MeV质子回旋加速器(CY CIAE-100)的单粒子效应辐照装置,测量了典型静态随机存储器(SRAM)的质子单粒子翻转截面;利用Space Radiation 7.0软件计算了卫星搭载该器件在典型轨道条件下运行的在轨错误率;同时研究了航天器在不同轨道高度、轨道倾角和屏蔽条件下对质子单粒子效应引发的在轨错误率的影响.计算结果表明:航天器运行于地球同步轨道高度及以下时,质子单粒子效应引发的在轨错误率均高于重离子的,最高可相差3个数量级左右.

关键词：空间辐射环境、单粒子效应、在轨错误率、轨道参数、回旋加速器

所属期刊栏目：35

分类号：V520.6;O483(航天术)

资助基金：国家自然科学基金项目"纳米器件单粒子效应敏感区重离子微束定位分析技术"11690044

在线出版日期：2018-09-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：365-370