10.3969/j.issn.1673-1379.2014.05.010
SRAM型FPGA空间应用的抗单粒子翻转设计
SRAM型FPGA容易受到空间辐射环境引起的单粒子翻转(SEU)的影响,造成FPGA逻辑错误和功能中断,因此空间应用时必须对其进行抗单粒子翻转加固设计,提高其空间应用的可靠性。文章综述了几种FPGA抗单粒子翻转的设计方法,包括三模冗余设计、动态刷新设计和动态部分可重构设计等。利用构建的测试系统,验证以上多种FPGA抗单粒子翻转设计方法的工程可实施性。
FPGA、单粒子翻转、容错设计、可靠性
TN47(微电子学、集成电路(IC))
2014-11-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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510-515