一种串并转换器件单粒子效应试验研究

摘要：

针对型号用新型器件抗辐射能力评估的需要，研制了串并转换器件单粒子效应检测系统，并对卫星型号中准备使用的一款26位串并转换器件进行了单粒子效应评估试验，得到了器件抗单粒子锁定的阈值，并发现该器件在单粒子辐照下会出现连续位输出错误。结合器件版图、结构分析了单粒子效应造成连续位错误的原因，为器件厂家后续设计改进和卫星型号进行系统级抗辐射加固设计提供了依据。

关键词：串并转换器件、辐射效应、单粒子效应、试验研究

分类号：TN406;V416.5(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金项目编号11179003

在线出版日期：2013-11-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：509-511