静态存储器单粒子翻转率预示的在轨验证

摘要：

SRAM型FPGA配置区的单粒子翻转可能对系统的功能产生严重的影响,因此必须进行针对性的加固措施,而加固的重要依据之一是在轨翻转率结果.文章将地面获得的Hitachi 4Mb SRAM HI628512单粒子翻转率预示结果与搭载在极轨卫星SAC-C等上的飞行试验的结果进行了比较.分析表明基于国内地面试验数据和FOM方法预示的在轨翻转率与国外的在轨监测数据接近,多位翻转的试验结果也得到了在轨试验数据的验证.这些结果表明我国在单粒子翻转的模拟试验技术和在轨翻转率预示方面取得了相当的进展,可以为卫星电子系统抗辐射加固设计提供有力的保障.

关键词：静态存储器、单粒子翻转、多位翻转、FOM方法、在轨监测

所属期刊栏目：26

分类号：TN492.6;V417+.7(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2010-03-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：506-509