10.3969/j.issn.1009-8518.2002.01.004
质子和电子对光学反射镜辐射效应的研究
研究了能量为E=160keV质子和电子单独及综合辐照作用对两种空间反射镜光学表面的影响.观察到在辐照剂量达到Φ=10×105/cm2后反射镜表面形成了明显的结构缺陷,并导致某些谱段反射率的降低和成像质量的下降.辐照诱发缺陷的类型及分布特征除与粒子种类和反射镜结构有关外,还依赖于试样的接地方式.质子幅照主要引起反射镜表面膜层的起泡现象;电子辐照则使SiO2保护膜着色;综合辐照的影响复杂,尤其是在接近于空间使用条件的第二种接地方式下,起泡现象和静电效应成为镜面损伤的主要机制.
光学反射镜、质子、电子、辐照效应、缺陷
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V416.5(基础理论及试验)
2006-09-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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