神经内镜经鼻入路颅咽管瘤术后电解质变化趋势及危险因素分析

摘要：

目的 探讨神经内镜经鼻入路颅咽管瘤术后患者电解质变化趋势及危险因素.方法 回顾50例神经内镜经鼻入路颅咽管瘤患者的临床资料,描述患者术后发生电解质紊乱发生率,分析术后血钠、血氯、血钾值变化趋势,并采用logistic回归分析术后并发电解质紊乱的危险因素.结果 患者术后高钠血症发生时间为术后当日至术后第4天,低钠血症发生时间为术后第5～9天;术后高钾血症发生时间为术后第2天,术后低钾血症发生时间为术后当日至术后第4天;术后高氯血症发生时间为术后当日至术后第4天,低氯血症发生时间为术后第6～9天.从患者术后血钠、血氯、血钾变化趋势中可以看出,术后4d内为发生电解质紊乱的最常见时期;颅咽管瘤患者的病理类型为术后电解质紊乱发生的危险因素.结论 术后4d内为纠正颅咽管瘤术后电解质紊乱的最佳时期.颅咽管瘤术后并发电解质紊乱危险因素的分析结果及电解质变化趋势,可为临床进行早期护理评估、采取针对性干预措施、减少颅咽管瘤术后水电解质紊乱并发症的发生提供参考.

关键词：神经内窥镜、颅咽管瘤、电解质紊乱、危险因素

所属期刊栏目：38

分类号：R473.74(护理学)

资助基金：北京市医院管理中心青苗计划QMS20220530

在线出版日期：2023-05-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：843-846