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10.3969/j.issn.1672-8785.2023.08.004

硅基碲镉汞红外探测器表面钝化研究

引用
碲镉汞(Mercury Cadmium Telluride,MCT)材料的表面钝化是红外探测器制备中的关键工艺之一.高性能MCT器件需要稳定且可重复生产的钝化表面和符合器件性能要求的界面.因此,探究MCT表面钝化技术具有重要意义.研究了MCT的分子束外延(Molecular Beam Epitaxy,MBE)原位钝化与磁控溅射钝化两种钝化技术.结果表明,MBE原位钝化膜层的致密性较好,钝化层表面的缺陷孔洞较小,钝化层与MCT的晶格匹配度较好,器件流片的电流-电压(I-V)特性要优于磁控溅射正常钝化.

碲化镉、分子束外延、钝化、电流-电压特性

44

TN215(光电子技术、激光技术)

2023-09-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

28-33

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1672-8785

31-1304/TN

44

2023,44(8)

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