10.3969/j.issn.1672-8785.2020.06.002
锑化铟焦平面器件背面减薄后的表面处理方法研究
经传统的背面减薄工艺处理后,锑化铟焦平面器件的表面上经常会有细微划道;采用传统的表面清洗方式时也容易对器件表面造成划道,导致工艺重复性差.因此,当器件经过背面减薄后,利用腐蚀液去除划道,并采用基于石油醚和无水乙醇的非接触式清洗方法,有效降低了器件表面产生划道的几率,同时避免了由于表面腐蚀速率不均匀导致测试时部分区域电平较高、在测试图像上出现亮斑等情况;另外还提高了工艺的重复性,使锑化铟器件的红外成像均匀且没有划道,从而提高了该器件的成品率.
锑化铟、非接触式清洗、表面处理、划道
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TN215(光电子技术、激光技术)
2020-09-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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