10.3969/j.issn.1672-8785.2020.01.005
微测辐射热计的热响应时间测试方法
热响应时间是微测辐射热计的关键参数,它会制约非制冷红外探测器的最高工作帧频.热响应时间的像元级测试能够真实反映传感器的物理热响应时间,为产品设计优化提供及时、有效的数据支持,因此准确测量该参数具有十分重要的意义.但目前像元级测试方法均未能有效补偿微测辐射热计的自热效应,无法精准地测量热响应时间.基于频率响应法测试了微测辐射热计的有效热响应时间.通过用电阻温度系数对自热效应进行补偿,可以精确测量物理热响应时间.通过实验分析了不同偏置电流下测得的物理热响应时间.结果 表明,该方法准确度高,稳定性强.
微测辐射热计、热响应时间、自热效应、频率响应
41
TN215(光电子技术、激光技术)
2020-06-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
21-26