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10.3969/j.issn.1672-8785.2019.11.005

红外焦平面探测器的暗电流测试分析及性能研究

引用
针对碲镉汞红外焦平面探测器,研究了两种暗电流测试方法.降低暗电流直接关系到探测器的信噪比.对所研制的碲镉汞光伏探测器在工作条件下的暗电流大小进行了测试分析.通过对比多组测试结果发现,工作温度及工艺对暗电流具有不同程度的影响.该研究为以后改进工艺和提高探测器性能及筛选效率提供了理论依据.

红外探测器、焦平面阵列、暗电流、碲镉汞

40

TN2(光电子技术、激光技术)

2020-04-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

23-28

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红外

1672-8785

31-1304/TN

40

2019,40(11)

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