10.3969/j.issn.1672-8785.2019.07.002
液相外延碲镉汞薄膜表面的结晶类缺陷分析
利用扫描电镜、能谱分析、光学轮廓仪以及金相显微镜等测试手段对液相外延碲镉汞薄膜表面缺陷的形貌、成分和断面进行了分析,并研究了不同种类表面缺陷的特征及来源.结果 表明,液相外延碲镉汞薄膜表面上存在的结晶类缺陷往往尺寸较大或成片分布,对后续器件产生明显影响.通过分析其成因可以发现,母液均匀性的提升是减少该类缺陷和提高碲镉汞薄膜质量的关键.
碲镉汞、结晶类缺陷、相分离
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TN304(半导体技术)
2019-10-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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