基于VIIRS传感器的场地反射率测量精度的验证

摘要：

反射率基法是目前最常用、最有效的可见光近红外通道在轨辐射定标方法.在该方法中,准确的场地反射率测量是得到高精度定标结果的重要前提之一.利用双光谱仪法进行了野外地物反射率时间序列测量,避免了用传统测量方法可能出现的辐射条件不一致问题.用中心区和高反区场地反射率测量值对VIIRS传感器的表观反射率进行了模拟,并将VIIRS可见光近红外9个通道(I1、I2、M1～M7)的卫星观测表观反射率值与6S辐射传输模型模拟值进行了对比.除M6通道外(水汽吸收),相对偏差均在3％以内,验证了场地反射率测量的准确性.

关键词：双光谱仪法、敦煌辐射校正场、ASD光谱仪、VIIRS

所属期刊栏目：37

分类号：P237(摄影测量学与测绘遥感)

在线出版日期：2016-10-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：37-41