红外成像传感器系统非均匀性成因研究

摘要：

从探测器的响应特性、光学系统的相对辐射和外壳的杂散光三个方面对红外成像传感器系统非均匀性的产生原因进行了理论研究.红外焦平面阵列中,探测元与探测元间的结构及材料差异会影响量子效率及暗电流,从而影响探测元的响应特性.光学系统主要通过光瞳畸变矩阵影响场景辐射通量的分布,光学系统本身的辐射对非均匀性的贡献可以忽略.外壳的杂散光可分为高温部分和低温部分,忽略低温部分,引入系统冷屏效率的概念,建立了高温组件的辐射模型.该理论研究对光学系统的设计及非均匀性校正具有一定的参考意义.

关键词：IRFPA、非均匀性、探测器响应、光学系统、外壳杂散光

所属期刊栏目：37

分类号：TN215(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2016-08-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：29-32