10.3969/j.issn.1672-8785.2014.01.009
用红外光谱技术研究打蜡梨的红外光谱特性
采用CCD阵列光谱仪研究了打蜡梨的红外光谱特性.经分析,在655~660 nm波段,经过打蜡处理后的梨会出现吸收峰,而未经打蜡处理的梨则没有出现吸收峰;在610~620 nm波段,打过石蜡梨的红外图谱吸收峰峰高和未打蜡梨的红外图谱吸收峰峰高相当,而打过果蜡梨的红外图谱吸收峰远远低于未打蜡梨的红外图谱吸收峰.该结果表明红外光谱技术在打蜡梨检测中具有一定的可行性,同时也为进一步研究针对打蜡梨的智能化无损检测技术提供了参考依据.
红外光谱、梨、果蜡、石蜡
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TS207.3(食品工业)
湖北省高等学校省级教学研究项目2012172;华中农业大学创新性实验教学项目
2014-04-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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