基于对数二阶微分峰值法的缺陷深度测量研究

摘要：

红外检测中定量分析方法常以特征时间和缺陷深度的关系为基础.本文预设6个平底洞的不锈钢为实验试件,选取一种不需要参考区域的PSDT法进行测厚计算.以对数温度曲线的二阶微分峰值时刻作为特征时间,利用特征时间与试件深度的平方成正比关系,达到测厚的目的.用VC软件编程实现任意点的数据计算,先用最小二乘多项式的方法拟合数据,再计算对数温度-对数时间的二阶微分峰值时刻,将结果用图形直观精确地显示出来,最终实现缺陷深度的自动测量.

关键词：二阶微分峰值、深度测量、红外脉冲检测

所属期刊栏目：34

分类号：O434.3(光学)

资助基金：国家自然科学基金U1233120,61079020

在线出版日期：2013-06-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：21-25,31