10.3969/j.issn.1672-8785.2011.08.003
电阻阵列非均匀性测试方法研究
给出了电阻阵列非均匀性校正方法,并根据非均匀性测试模型分析了1:1映射下的非均匀性全屏测试方法.针对图像退化会导致边缘效应以及收敛性变差的问题,研究了基于点扩散函数估计的全屏测试方法.仿真结果表明,与原方法相比,该方法可以减少边缘效应的影响,并且在平滑因子较大时可以体现出更好的收敛性.
电阻阵列、非均匀性校正、稀疏网格法、全屏测试法、点扩散函数
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TN219(光电子技术、激光技术)
航空科学基金20080112005
2012-01-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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