电阻阵列非均匀性测试方法研究

摘要：

给出了电阻阵列非均匀性校正方法,并根据非均匀性测试模型分析了1:1映射下的非均匀性全屏测试方法.针对图像退化会导致边缘效应以及收敛性变差的问题,研究了基于点扩散函数估计的全屏测试方法.仿真结果表明,与原方法相比,该方法可以减少边缘效应的影响,并且在平滑因子较大时可以体现出更好的收敛性.

关键词：电阻阵列、非均匀性校正、稀疏网格法、全屏测试法、点扩散函数

所属期刊栏目：32

分类号：TN219(光电子技术、激光技术)

资助基金：航空科学基金20080112005

在线出版日期：2012-01-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：12-17