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10.3969/j.issn.1672-8785.2011.04.001

碲镉汞器件空间辐射损伤研究的进展

引用
碲镉汞(MCT)红外探测器在天基平台中的应用正在逐渐增多,运行于空间辐射环境这一特点给其功能实现带来了挑战.MCT器件的独特性质要求人们对空间辐射效应给予特别考虑.目前,通过利用CdTe钝化MCT探测器技术,器件的总剂量脆弱性问题已经得到解决.随着材料质量的改进(例如通过降低原生缺陷浓度),MCT器件更容易受到位移损伤引入缺陷的影响.介绍了部分已发表的有关MCT辐射效应研究的文献资料,讨论了MCT器件辐射损伤效应机理研究的发展历程以及提高MCT器件辐射耐受性的方法.

碲镉汞、红外探测器、空间辐射损伤、总剂量损伤、位移损伤、辐射加固

32

TN304.2+5(半导体技术)

2011-07-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

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1672-8785

31-1304/TN

32

2011,32(4)

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