非致冷红外焦平面成像系统辐射测温技术研究

摘要：

为了消除由非致冷红外焦平面自身温度变化造成的辐射测温偏差,提出了一种基于G-t(黑体辐射灰度-探测器工作温度)标准曲线进行辐射测温的新方法.该方法从热辐射理论和热像仪测温原理出发,利用实验测得的G-t标准温度关系曲线,并结合灰体表面真实温度的计算公式,最终实现了非致冷红外焦平面成像系统的高精度辐射测温.实验结果表明,当探测器的工作温度在26℃~35℃、黑体温度在35℃(308K)~45℃(318K)时,绝对温度偏差低于1K,有效地消除了非致冷红外焦平面自身的温度变化对辐射测温精度的影响.

关键词：红外热像仪、非致冷红外焦平面成像系统、辐射测温、探测器温度效应

所属期刊栏目：32

分类号：P407.6(一般理论与方法)

资助基金：国家自然科学基金资助项目60977001

在线出版日期：2011-04-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1-4