10.3969/j.issn.1672-8785.2010.07.002
锑化铟红外焦平面探测器盲元失效问题的研究
锑化铟红外焦平面探测器将要在寿命周期中于室温到77K的温度范围内工作几千次.由于不同材料的热膨胀系数不一致,热循环会造成焊点疲劳和失效,最终导致焦平面探测器失效.通过研制的温度循环设备,了解了铟焊点失效的原因,并用ANSYS软件对铟柱的机械失效现象进行了分析.通过分析铟柱高度和可靠性之间的关系,得出铟柱高度的增加可以提高探测器的可靠性.介绍了焊接可靠性的评价方法.改进后的焊接工艺可大幅提高探测器的可靠性.
焦平面探测器、盲元、可靠性
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TN215(光电子技术、激光技术)
2010-09-06(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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