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10.3969/j.issn.1672-8785.2006.01.005

热处理过程对HgCdTe光伏探测器性能的影响

引用
本文论述了HgCdTe光伏探测器的I-V特性和暗电流机制,讨论了离子注入后退火、钝化后烘烤、倒焊互联后退火等热处理过程对HgCdTe光伏探测器性能的影响.

HgCdTe光伏探测器、退火、烘烤

27

TN3(半导体技术)

2006-03-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

21-25

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1672-8785

31-1304/TN

27

2006,27(1)

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