10.3969/j.issn.1672-8785.2003.05.003
半导体器件的可靠性
@@ 可靠性技术是20世纪50年代发展起来的一门综合性技术,它包括可靠性数学、可靠性试验、失效分析、可靠性管理以及设计、生产和维护使用中的质量控制及可靠性保证等方面[1-7].本文对可靠性数学、可靠性试验、失效分析以及可靠性技术发展现状作一介绍.
半导体、可靠性数学、可靠性试验、可靠性技术、失效分析、可靠性管理、可靠性保证、质量控制、维护使用、发展现状、生产、设计
TN3(半导体技术)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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