10.3969/j.issn.1672-8785.2002.08.005
面列阵焦平面探测器的多点定标非均匀性校正算法及其实现
面列阵焦平面探测器的非均匀性校正技术是国内外正在探索中的一项关键技术.文章首先介绍了探测器非均匀性产生的原因及现在被普遍采用的非均匀性校正方法;重点讨论了两点、多点温度定标法的算法推导及其软硬件实现方法.
红外焦平面探测器、非均匀性校正、两点法、多点法
TN3(半导体技术)
2005-03-03(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
24-29
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10.3969/j.issn.1672-8785.2002.08.005
红外焦平面探测器、非均匀性校正、两点法、多点法
TN3(半导体技术)
2005-03-03(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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