利用薄膜描记比对方法改善颅内肿瘤靶区勾画的初步评价

摘要：

目的：探讨薄膜描记比对方法改善颅内肿瘤靶区勾画的可行性。方法在 MRI 矢状位确定颅内肿瘤病灶具有代表性的3个层面并测量这3个层面至矢状正中层面的距离 Sd1、Sd2、Sd3，在一张薄膜上用细线笔描记这3个层面的颅骨表面轮廓与肿瘤病灶轮廓；根据 Sd1、Sd2、Sd3数值在重建矢状位 CT 影像中找到相对应的3个层面，通过调节图像缩放功能以及微调头颅前倾后仰角度，使得2幅图像的颅骨表面轮廓完全重合。冠状位层面的匹配过程大致类推。矢状位切面图与冠状位切面图各取60套，将治疗计划的肿瘤靶区轮廓与薄膜描记的 MRI 肿瘤病灶轮廓比对验证，分别测出两者在各方向的差异。结果2种方法在矢状位的差异：前后方向（1.25±0.56）mm，头脚方向（1.37±0.42）mm；在冠状位的差异：左右方向（1.82±0.89）mm，头脚方向（2.26±0.86）mm；大于3 mm 差异者，矢状位的前后与头脚方向均为0.00%，而冠状位的左右方向为0.00%，冠状位的头角方向为6.67%。结论薄膜描记比对方法可以改善颅内肿瘤靶区的勾画准确性。

关键词：薄膜描记比对方法、颅内肿瘤、靶区勾画

分类号：R739.41;R730.55(肿瘤学)

在线出版日期：2015-09-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：320-322