新生儿低血糖脑损伤的相关高危因素分析

摘要：

目的 分析新生儿低血糖脑损伤的相关高危因素.方法 选取2010-01-2013-06本院收治的145例低血糖新生儿为研究对象,将脑损伤的发生率进行统计,并对Apgar评分、低血糖持续时间、血糖水平及是否伴有惊厥者的发生率进行比较,以Logistic分析上述因素.结果 145例低血糖新生儿中发生50例脑损伤,发生率为34.48%,其中低Apgar评分、低血糖持续时间＞12 h、血糖＜1.1 mmol/L及伴有惊厥者的发生率明显高于高Apgar评分、低血糖持续时间≤12 h、血糖≥1.1 mmol/L及伴无惊厥患儿,Logistic分析显示其均为脑损伤的危险因素(P均＜0.05).结论低Apgar评分、低血糖持续时间＞12 h、血糖＜1.1 mmol/L及伴有惊厥均是新生儿低血糖脑损伤的相关高危因素,应给予针对性防控干预,以尽量降低脑损伤的发生.

关键词：新生儿低血糖、脑损伤、高危因素

所属期刊栏目：17

分类号：R722.19(儿科学)

在线出版日期：2014-03-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：33-34