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Si图形衬底的制备及半极性GaN生长

引用
利用KOH溶液的各向异性腐蚀,通过研究温度、异丙醇(IPA)及超声波振动对Si衬底腐蚀的影响,在Si(001)平面衬底上刻蚀出侧面为(111)面的槽状图形衬底.在此基础上,实现了GaN在Si图形衬底(111)侧面的生长.X射线双晶衍射测量GaN薄膜的Bragg角为18.45°,表明在Si图形衬底上成功生长出了(1-101)半极性GaN薄膜.其X射线衍射峰半高宽为1 556弧秒.

KOH溶液、各向异性腐蚀、异丙醇、超声波振动、半极性GaN、Si图形衬底

O59(应用物理学)

国家自然科学基金项目50602018;广东省自然科学基金项目06025083

2011-03-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

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