相位物体相位测量系统

摘要：

组建了一种实用的测量相位物体相位的系统,主要介绍其系统结构、基于LabView平台的硬件组件的连接、软件部分的图像处理算法的设计,并将其应用于位相光栅相位的定量检测.实验结果表明:该测量系统结构简单、重复性好、稳定性高、数据采集自动化,能较好地再现位相光栅的结构,并得到相位光栅相位分布假彩色图、灰度图及三维分布图.对相位物体的相位以及其它光学参数如厚度、折射率的测量具有一定的应用价值.

关键词：相位测量系统、扫描平移台、CMOS、LabView、图像处理算法、位相光栅

分类号：O438(光学)

在线出版日期：2010-05-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：42-46