10.3969/j.issn.1000-5463.2003.03.011
GaInP/(AlxGa1-x)InP多量子阱结构的光荧光特性分析
利用金属有机化合物气相沉积(MOCVD)技术生长了GaInP/(AlxGa1-x)InP多量子阱(MQW)结构材料,对其进行光荧光特性测量,观察到在波长λ=647.8 nm和λ=861.6 nm处分别存在一个强发光锋和一个弱发光峰. 理论计算和实测结果基本一致.
发光二极管(LED)、GaInP/(AlxGa1-x)InP、多量子阱、光荧光
TN209;TN248(光电子技术、激光技术)
国家科技攻关项目00-068
2003-10-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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