10.3321/j.issn:1000-565X.2001.03.004
Electron Tunneling from the 〈100〉 and 〈111〉 Oriented Si into the Ultrathin Rapid Thermal Nitrided SiO2 Films
用卤素-钨灯作辐射热源快速热氮化(RTN)，在〈100〉和〈111〉晶向Si衬底上制备了SiSiOxNyAl电容，并测量了由低场到FN隧穿电场范围的电子从N型Si积累层到超薄SiOxNy膜的电流传输特性.测量结果说明，两种不同晶向的低场漏电流没有多大区别，而在高场范围对〈100〉晶向电容结构的FN隧穿电流要比〈111〉晶向电容结构的FN隧穿电流显著增加，并对实验结果作了初步讨论.
电子隧穿、快速热氮化、超薄SiO2膜、晶向硅
29
O484.3(固体物理学)
广东省自然科学基金950186
2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共5页
13-17
