10.3969/j.issn.1004-3918.2000.04.008
连续激光照射下In2O3纳米微粒的光学限幅特性
随着现代科学技术的飞速发展,高灵敏快速响应探测器产生广泛应用,为了避免强光照射对这些精密仪器的损伤,光限幅器的需求也日渐迫切.本文用Z-扫描技术测量了表面修饰In2O3纳米微粒的有效非线性系数n2和光学限幅特性曲线,发现在连续激光照射下In2O3纳米微粒呈现出较好的光限幅特性,光限幅阈值明显低于相应的体相材料.在不同入射功率作用下,观察到了奇异吸收特性.
纳米微粒、光限幅、Z-扫描技术
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O437(光学)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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