基于信息熵的PCB金手指表面镀层缺陷研究

摘要：

PCB的金手指缺陷直接影响电气设备的性能和稳定性.为了克服传统的图像检测PCB金手指表面镀层缺陷,本文提出了利用计算金手指图像的信息熵来检测其表面镀层缺陷,并讨论了两种信息熵检测算法.一是针对金手指表面露铜、氧化等缺陷,基于颜色变化的信息熵检测算法.二是针对金手指表面划伤缺陷,基于结构变异的信息熵检测算法.测试结果表明,金手指表面图像检测能有效识别露铜、划伤等缺陷,对实际的PCB金手指在线检测有一定的指导意义.

关键词：信息熵、金手指、缺陷、PCB

分类号：TG142.15(金属学与热处理)

资助基金：山东省高等学校科技计划项目J17KB145

在线出版日期：2019-12-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：29-32