500 kV断路器并联电容高压介损试验研究

摘要：

针对现场高压断路器断口电容的常规介损试验经常出现试验介损值超出规程标准的情况,经过分析与试验验证,发现断口电容内部绝缘介质的Garton效应是引起低电压下介损异常的主要原因.通过对介损异常的断口电容进行高压介损试验,发现试验品介损值随试验电压增高出现规律性变化,当电压下降至10 kV时,介损值较施加高压前有明显改善,从而减小Garton效应对实际介损值的影响,并为判断断口电容是否存在真实绝缘异常提供有效依据.

关键词：断口电容、绝缘测试、高压介损、Garton效应

所属期刊栏目：42

分类号：TM561(电器)

在线出版日期：2023-01-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：110-113,118