基于边界扫描技术的装备电路可测性设计

摘要：

随着装备中基于复杂数字电路的嵌入式系统应用越来越广泛，装备中电路系统的可测性设计（DFT）已成为装备可测试性设计的重要内容。IEEE 1149.1作为一种标准化的电路可测性设计方法，弥补了传统电路测试方法存在的缺陷，为复杂的互连电路提供了一种非入侵的测试手段。首先简述了可测试性设计和边界扫描测试技术的基本原理，并从边界扫描测试链设计、提高测试覆盖率和优化电路网络几个方面，分别提出了几种装备电子系统的电路可测试性设计的具体方法。

关键词：边界扫描技术、可测试性设计、JTAG接口、互连电路网络

分类号：TP39(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2015-04-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：159-162