多退化模式下的电子装备可靠性建模

摘要：

通常加速退化分析中退化失效只考虑或者假设只有一个退化通道,而实际上很多情况下会存在多退化模式.产品的各个退化通道间的关系存在随机性,即任意两个退化通道间不可能只是单一的相关或者独立.在考虑这种相关性的条件下,深入研究了电子产品的性能退化理论和机理,提出了两个多退化模式竞争失效的数学模型,分别阐述了退化通道相关与独立的两种不同情况下产品可靠度评估方法.

关键词：电子装备、可靠性、性能退化、多退化模式

所属期刊栏目：34

分类号：TB114.3(工程基础科学)

资助基金：国家自然科学基金资助项目60472009

在线出版日期：2009-12-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：164-166,170