10.3969/j.issn.1002-0640.2002.z1.023
数字系统的故障诊断、可测性设计与可靠性
随着电子技术的飞速发展,大规模、超大规模数字集成电路在电子系统中的应用日益广泛,对数字系统的故障诊断、可测性设计与可靠性研究引起了技术人员的充分重视,50年代末以来,这一领域已取得了很大成果.着重介绍了数字系统的故障诊断、可测性设计与可靠性发展过程及趋势.
电子系统、故障诊断、可测性设计、可靠性
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TP3(计算技术、计算机技术)
2004-12-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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