基于BP神经网络的晶体管寿命预测研究

摘要：

针对晶体管的寿命预测问题,基于BP神经网络,提出了一种预测模型.该方法采用BP神经网络建立起了以漏电流ICEO为特征参数的剩余寿命预测模型.文章介绍了BP神经网络的寿命预测模型结构及建立的流程,并对建模过程中的关键点进行了分析,结合BT5551晶体管可靠性寿命后的测试数据验证了该方法的有效性.

关键词：晶体管、BP神经网络、寿命预测、寿命特征参数

分类号：TN322+.8;TP391(半导体技术)

资助基金：国防科工局技术基础科研项目JSZL20191201ZL0002

在线出版日期：2022-12-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：100-103