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ITER 内部 ELM 线圈导体残余应力的分析与改善

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本文主要介绍使用盲孔法和热时效工艺对辊压缩径成型的 ITER 内部边界局域模(ELM)线圈导体在弯曲前后其外部铠甲(Inconel 625)及内部铜导体(CuCrZr)的残余应力分布和应力改善情况进行的对比分析和研究.研究表明,导体成型的冷变形工艺会使得导体铠甲及内部铜导体的残余应力增加,相比于成型前残余主应力会增加1倍以上.线圈绕制工艺能够降低线圈外部铠甲、内部铜导体约20%残余应力.热时效处理工艺能够显著缓解绕制后的 ELM 线圈残余应力,线圈外部铠甲、内部铜导体的残余应力能降低约40%.此外,550℃恒温2 h 并快冷的热时效工艺不仅降低弯曲 ELM 导体样品外部铠甲及内部铜导体的残余应力,同时热时效处理能够使得外部铠甲及铜导体上的残余应力均匀化.在均匀化之后,外部铠甲与内部铜导体的平均残余主应力差(σ1,σ2)分别为27.07 MPa 和15.97 MPa,较导体成型工艺后的平均应力差分别降低了38.98 MPa 和31.67 MPa.

盲孔法、热时效、残余应力、铠甲、导体

TF8;TM2

ITER 内部线圈的最终设计与原型件的加工制造C15TD73FP

2015-04-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共7页

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0258-0918

11-1861/TL

2015,(1)

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