基于CPCI总线技术的相控阵天线测试系统设计

摘要：

随着技术的发展和系统功能的增加,相控阵天线的规模越来越大,其工作模式也越来越复杂.为了在项目研发前期实现相控阵天线的全面性能测试,设计一种适应大规模阵面、多模式控制的相控阵天线测试系统显得尤为重要.本文主要论述了基于CPCI总线技术的相控阵天线测试系统的设计,以波控计算机和波束控制板为核心,与暗室测试设备同步交互,实现对相控阵天线多模式的测试控制和相控阵天线波束状态的实时监测.

关键词：相控阵天线、CPCI总线、测试系统

所属期刊栏目：52

分类号：TN957.2;TN911.72

在线出版日期：2023-04-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：115-118,124