用于集成电路制造中良率监控的国产化电子束缺陷检测设备

摘要：

电子束缺陷检测设备是集成电路制造中不可或缺的良率监控设备.其基本原理是结合扫描电镜成像技术、高精度运动控制技术、高速图像数据处理和自动检测分类算法等,在集成电路制造环节对晶圆及集成电路的物理缺陷和电性缺陷进行检测.为填补此类设备国产化空白,通过自主研发,突破了高分辨力大视场扫描成像、三维高精度定位补偿、智能化缺陷检测和分类等技术难点,研发了国产化电子束缺陷检测设备并应用于集成电路产线,填补了国内空白,为推动我国集成电路领域检测技术的发展起到了重要作用.

关键词：集成电路制造、电子束显微成像、缺陷检测

所属期刊栏目：43

分类号：TB9(计量学)

资助基金：国家科技重大专项2018ZX02201

在线出版日期：2023-04-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：169-174