10.11823∕j.issn.1674-5795.2021.06.06
基于Stokes矢量分析的偏光片光学参数测量
目前偏光片透过率的测量方法依赖偏光片的相对转动,受光源偏振度以及探测器偏振响应的影响大,测量精度低.为解决上述问题,本文提出了基于Stokes矢量分析的方法,通过分析入射到偏光片以及从偏光片出射的偏振光的Stokes矢量的改变,结合最优化算法来解析样品的偏振特性,从而快速、精确地测量偏光片的透过率.该方法测量速度快、可扩展性强,对平板显示产业中光学薄膜的偏振特性的测量具有普适性.
偏振光;Stokes矢量;Mueller矩阵;偏光片
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TB96(计量学)
江苏省市场监督管理局科技计划项目KJ196058
2022-02-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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